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TU Berlin

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Publications of the Research Group

Beseitigung von Flecken in digitalen Filmsequenzen
Citation key enge.2000.flecken
Author Odej Kao and Jan Engehausen
Title of Book G. Sommer, N. Krueger, Ch. Perwass (Edts.): Mustererkennung 2000, 22. Symposium f�r Mustererkennung der Deutschen Arbeitsgemeinschaft f�r Mustererkennung, Informatik aktuell
Pages 43-51
Year 2000
Publisher Springer
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