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Publications of the Research Group
| Citation key | enge.2000.flecken |
|---|---|
| Author | Odej Kao and Jan Engehausen |
| Title of Book | G. Sommer, N. Krueger, Ch. Perwass (Edts.): Mustererkennung 2000, 22. Symposium f�r Mustererkennung der Deutschen Arbeitsgemeinschaft f�r Mustererkennung, Informatik aktuell |
| Pages | 43-51 |
| Year | 2000 |
| Publisher | Springer |
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